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產(chǎn)品特點(diǎn): 大理石花崗石檢測平臺(tái),在檢測中一般用作基準(zhǔn)定位面,工作面作為檢測和劃線的平面基準(zhǔn),用此基準(zhǔn)平面與工件的實(shí)際表面進(jìn)行比較,從而確定誤差值。
更新時(shí)間: 2024-11-21
所 在 地: 蘇州吳中區(qū)天鵝蕩路5號(hào)偉基科技園3棟417室
大理石(花崗石)平臺(tái)精度高,無靜電,經(jīng)久耐用,測量精度高等優(yōu)點(diǎn)
產(chǎn)品用途:用于工件、設(shè)備檢測、劃線、裝配、測量、組裝、鉚焊的平面基準(zhǔn)量具處理工藝:
工作面精度: 000級(jí)=1×(1+d/1000)um,00級(jí)=2×(1+d/1000)um,0級(jí)=4×(1+d/1000)um,1級(jí)=8×(1+d/1000)um .
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:
大理石平臺(tái)精度高,無靜電,經(jīng)久耐用,測量精度高等優(yōu)點(diǎn),工作面有長方形、正方形、圓形等,可加工V形、T形、U形槽、燕尾槽、圓孔、長孔等,是用于工件、設(shè)備檢測、劃線、裝配、焊接、組裝、鉚焊的平面基準(zhǔn)量具。
大理石平臺(tái)技術(shù)要求:
1、大理石平臺(tái)工作面上不得有嚴(yán)重影響外觀和使用性能的砂孔、氣孔、裂紋、夾渣、縮松、劃痕、碰傷、銹跡等缺陷。
2、大理石平臺(tái)非工作面上的凹陷或掉角允許修補(bǔ)。
3、大理石平臺(tái)應(yīng)采用細(xì)晶粒、結(jié)構(gòu)致密的輝長巖、輝綠巖、花崗巖(黑云母應(yīng)小于5%、彈性模量應(yīng)大于0.6x10-4kg/平方厘米、吸水率應(yīng)小于0.25%)等材料制造,其工作面硬度應(yīng)大于70hs。
4、大理石平臺(tái)工作面的表面粗糙度R的允許值為0.32—0.63μm,側(cè)面為10μm。
5、大理石平臺(tái)工作面的平面度公差在溫度20℃下給定:000級(jí)=1×(1+d/1000)um、00級(jí)=2×(1+d/1000)um、0級(jí)=4×(1+d/1000)um、1級(jí)=8×(1+d/1000)um、(d為對角線長度,mm),距工作面邊緣30mm內(nèi)平面度公差不計(jì),且任意一點(diǎn)不得高于工作面。
6、對采用對角線或網(wǎng)格法檢驗(yàn)大理石平臺(tái)工作面平面度時(shí),應(yīng)檢驗(yàn)其平面波動(dòng)量,工作面的平面波動(dòng)量為000級(jí)=2μm,00級(jí)=4μm,0級(jí)=8μm,1級(jí)=16μm。
7、大理石平臺(tái)側(cè)面對工作面的垂直度公差和平臺(tái)倆相鄰側(cè)面的垂直度公差均按GB/T1184中規(guī)定的12級(jí)。
大理石平臺(tái)工作原理:在檢測中一般用作基準(zhǔn)定位面,工作面作為檢測和劃線的平面基準(zhǔn),用此基準(zhǔn)平面與被測工件的實(shí)際表面進(jìn)行比較,從而確定誤差值。
大理石平臺(tái)種類:大理石檢驗(yàn)平臺(tái),大理石平臺(tái)工作臺(tái),大理石測量平臺(tái),大理石檢測平臺(tái),大理石T型槽平臺(tái),大理石圓平臺(tái),大理石三座標(biāo)平臺(tái),大理石校正平臺(tái)。
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